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第8章 模拟接口(复习总结)
一、详细内容分析
8.1 概述
模拟量与数字量
- 模拟量(Analog):时间上连续、幅值上连续的物理量(如温度、压力、流量、声音)。
- 数字量(Digital):时间上离散、幅值上也离散的二进制代码。
- ADC / A/D 转换器(模数转换器):将模拟量转换为数字量的器件。
- DAC / D/A 转换器(数模转换器):将数字量转换为模拟量的器件。
8.1.1 传感器
- 把非电量(如温度、压力、流量等)转换成电压或电流等电信号的装置,是模拟接口系统的最前端。
8.1.2 多路开关(模拟多路复用器)
- 在多个模拟输入端中选择一路与公共端连接。
- 典型芯片:CD4051——单端 8 通道多路开关,含禁止端
INH、3 位地址端C/B/A。INH=1时所有通道断开。- 地址 CBA 二进制值选择 0~7 号通道。
- 多路开关可让多个模拟信号共用一个 ADC,节省硬件成本。
8.2 D/A 转换
8.2.1 D/A 转换原理
1. 加权电阻网 D/A 转换
- 通过不同阻值的加权电阻,使每一位数字量产生与"权值"成比例的电流,再把各电流求和得到对应的模拟电压。
- 缺点:电阻值差异大(如 1R、2R、4R、…、128R),制造困难,对位数的扩展不利。
2. T 型电阻网(R-2R)D/A 转换(重点)
- 仅使用 R 和 2R 两种电阻,构成 T 型电阻网络。
- 由数字量各位控制开关 K0~K3,当
Qn=1时开关接到运算放大器的求和点(I 端),Qn=0时接地。 - 流入运放求和点的总电流:
I = (VREF/2R)·K3 + (VREF/4R)·K2 + (VREF/8R)·K1 + (VREF/16R)·K0= (VREF / 2⁴R)·(2³·K3 + 2²·K2 + 2¹·K1 + 2⁰·K0)
- 输出电压:
VOUT = −I·R0(反相比例运算) - 推广到 n 位:
VOUT = a·D,其中a = VREF / (2ⁿ·R),D为输入数字量。 - 优点:仅两种电阻,便于集成,工艺简单,是绝大多数集成 DAC 的核心结构。
8.2.2 D/A 转换器的主要技术指标
1) 分辨率(Resolution)
- 定义:输入数字量变化 1 个 LSB 时,输出模拟量的变化量,反映输出模拟量的最小变化能力。
- 公式:分辨率 = FS / 2ⁿ(FS 为满量程电压,n 为位数)。
- 例如:8 位 DAC、FS=5V,则分辨率 = 5V / 256 ≈ 19.5 mV;12 位 DAC、FS=5V,则分辨率 ≈ 1.22 mV。
- 也常用"位数"直接表示分辨率大小(位数越高,分辨率越好)。
2) 建立时间(Settling Time)
- 又称转换时间:从输入数字量发生变化开始,到输出模拟量稳定到规定误差带(±ε)内所需的时间。
- 是 DAC 速度的关键指标,电流输出型 DAC0832 的建立时间为 1 μs。
3) 精度 / 线性误差(补充)
- 实际转换特性偏离理想特性的最大偏差,常以满量程的百分数表示(如 DAC1210 线性误差 0.05%FS)。
8.2.3 DAC0832 转换器及应用(重点芯片)
1. 主要特性
- 8 位分辨率;
- 电流型输出(需外接运放转换为电压);
- 参考电压 VREF 范围 −10V ~ +10V;
- 可工作于 双缓冲、单缓冲、直接输入 三种方式;
- 单电源 +5V ~ +15V;
- 电流建立时间 1 μs;
- 内部采用 R-2R T 型解码网络;
- 数字输入与 TTL 兼容。
2. 内部结构
- 由 4 部分组成:
- 8 位输入寄存器;
- 8 位 DAC 寄存器;
- 8 位 D/A 转换器(R-2R 网络 + 开关);
- 一组控制逻辑。
3. 引脚功能(必背)
| 引脚 | 功能 |
|---|---|
| D7~D0 | 8 位数字量输入端 |
| ILE | 输入寄存器允许信号(高电平有效) |
| /CS | 片选信号(低电平有效) |
| /WR1 | 输入寄存器写选通(低电平有效) |
| /XFER | 传送控制信号(低电平有效) |
| /WR2 | DAC 寄存器的写选通(低电平有效) |
| VREF | 参考电压,−10V ~ +10V |
| IOUT1, IOUT2 | 电流输出端(线性互补) |
| RFB | 片内反馈电阻(接运放输出端) |
| VCC | 电源 +5V ~ +15V |
| AGND / DGND | 模拟地 / 数字地 |
- 控制逻辑关系:
- 输入寄存器锁存条件:
ILE = 1 且 /CS = 0 且 /WR1 = 0; - DAC 寄存器锁存条件:
/XFER = 0 且 /WR2 = 0。
- 输入寄存器锁存条件:
4. 三种工作方式
| 工作方式 | 做法 | 适用场景 |
|---|---|---|
| 直通方式 | ILE、/CS、/WR1、/XFER、/WR2 全部接固定有效电平 | 波形发生器等需要持续输出、不需要锁存的场合 |
| 单缓冲方式 | 一组寄存器直通,另一组受控(如 /WR1 与 /XFER 共用同一写信号) | 单路模拟输出,CPU 一次写即转换一次 |
| 双缓冲方式 | 两级寄存器都受控,先锁存输入寄存器,再选通到 DAC 寄存器 | 多片 DAC0832 同步输出(如 X-Y 绘图仪、双路波形) |
5. 典型应用:单极性单缓冲连接
- 端口地址 80H~83H(由 74LS138 译码);
- 数字量 N(00H~FFH)→ 输出电压
VOUT = 5V · N / (2⁸) = 5V · N / 255; - 例:输出 0V~5V 某电压 V 的程序:
MOV AL, N ; N 为 00H~0FFH 间的数字量 OUT 78H, AL ; 经端口送出,转换为模拟电压 - 例:方波 / 锯齿波 / 三角波发生器(用循环 INC/DEC + CALL DELAY 实现)。
6. 例题要点
- 将 2000H 起始的 50 个字节数据依次送到 DAC0832,每点间隔 1 ms 可输出任意波形:
MOV SI, 2000H MOV CX, 50 A1: MOV AL, [SI] INC SI OUT 80H, AL CALL D1ms LOOP A1
8.2.4 12 位 D/A 转换器 DAC1210
- 12 位分辨率,电流型输出;
- VREF:−10V ~ +10V;可双缓冲 / 单缓冲 / 直接输入;
- 单电源 +5V ~ +15V;建立时间 1 μs;R-2R T 型解码网络;
- 线性误差 0.05% FS;TTL 兼容。
- 内部结构含 8 位锁存器(D11
D4,先送)+ 4 位锁存器(D3D0,后送)+ 12 位 DAC 寄存器 + 12 位 D/A 转换器。 - BYTE1/BYTE2 控制字节写入顺序。
8.3 A/D 转换
8.3.1 A/D 转换原理
1. A/D 转换的基本过程:采样 → 量化。
- 采样:取离散时间点上的模拟信号值,得到时间离散、幅值连续的离散信号
f(nT)。 - 量化:将离散信号按最小量化单位取整,得到数字信号。
香农(Shannon)采样定理:
- 对有限频谱(ω ≤ ωmax = 2π fmax)的连续信号进行采样时,若 采样频率 f ≥ 2·fmax,则采样信号可无失真地恢复原连续信号。
- 工程中常取 f ≥ (5~10)·fmax。
量化误差:
- 量化单位 q = FS / 2ⁿ;最大量化误差 = ± q/2。
- n 越大,量化误差越小,分辨率越高。
2. 三种主要 ADC 类型
| 类型 | 原理 | 速度 | 精度 | 特点 |
|---|---|---|---|---|
| 计数式(斜坡式) | 计数器从 0 递增,经 DAC 产生斜坡电压与输入比较 | 慢(最坏 2ⁿ 个时钟) | 中 | 电路简单 |
| 逐次逼近式(SAR) | 二分搜索:每次试探 1 位,n 次逼近结果 | 中(固定 n 个时钟) | 较高 | ADC0808/0809、AD574 采用 |
| 双积分式 | 先积分被测电压,再反向积分参考电压,计数得数字量 | 慢(ms 级) | 高,抗干扰 | 数字电压表 |
| (并行比较型/Flash) | 多个比较器同时比较,速度最快 | 最快(ns 级) | 较低 | 价格贵 |
| (Σ-Δ 型) | 过采样 + 噪声整形 + 数字滤波 | 较慢 | 很高 | 高精度音频、仪表 |
3. 逐次逼近式 ADC 工作过程(重点)
- 类比"天平称重":从最高位开始,每次先置 1,与输入电压比较:
- 若 DAC 输出 ≤ 输入电压,则保留该位为 1;
- 否则清除该位为 0;
- 再试下一低位。
- n 位 ADC 只需 n 次比较即可完成转换(与计数式最多需 2ⁿ 次比较形成鲜明对比)。
- 优点:速度较快(固定 n 个时钟周期)、精度较高、电路适中,是中等速度/精度场合的主流方案。
8.3.2 A/D 转换器的主要技术指标
1) 分辨率:输出数字量变化 1 个相邻码所需输入电压的变化量,= VFS / 2ⁿ。
2) 转换时间:从启动信号到获得稳定数字输出所需的时间(ADC0809 约 100 μs;AD574 约 25 μs)。
3) 量程:能转换的输入电压范围(如 05V、010V、±5V、±10V)。
8.3.3 8 位 A/D 转换器 ADC0809(重点芯片)
1. 主要特性
- 8 位分辨率;
- 电压输入范围 0~+5V;
- 转换时间 100 μs(时钟 640 kHz 条件);
- 时钟频率 100 kHz ~ 1280 kHz;
- 单一 +5V 电源;
- 8 路单端模拟量输入通道(IN0~IN7);
- 参考电压 +5V;
- 总不可调误差 ±1 LSB;
- 温度范围 −40℃ ~ +85℃;
- 可锁存的三态输出;输出与 TTL 兼容。
2. 内部结构
- 通道选择开关 + 地址锁存与译码(ADDC/ADDB/ADDA、ALE)
- 8 位逐次逼近寄存器 SAR
- D/A 转换器(内含)
- 比较器
- 8 位锁存器与三态输出缓冲器
- 定时与控制电路
3. 引脚功能(必背)
| 引脚 | 功能 |
|---|---|
| IN7~IN0 | 8 路模拟量输入线 |
| D7~D0 | 8 位数字量输出线 |
| ADDC, ADDB, ADDA | 通道地址(高三位为 ADDC) |
| ALE | 地址锁存允许(高电平锁存) |
| START | 启动信号(上升沿清零 SAR,下降沿开始 A/D 转换) |
| CLOCK | 时钟输入(标准 640 kHz,对应转换 100 μs) |
| EOC | 转换结束信号(启动后为低,由低变高表示转换结束) |
| OE | 输出允许(高电平打开三态缓冲器) |
| VREF(+), VREF(−) | 基准电压输入 |
| VCC / GND | 电源 / 地 |
4. 8 路通道地址选择表(必背)
| ADDC | ADDB | ADDA | 选中通道 |
|---|---|---|---|
| 0 | 0 | 0 | IN0 |
| 0 | 0 | 1 | IN1 |
| 0 | 1 | 0 | IN2 |
| 0 | 1 | 1 | IN3 |
| 1 | 0 | 0 | IN4 |
| 1 | 0 | 1 | IN5 |
| 1 | 1 | 0 | IN6 |
| 1 | 1 | 1 | IN7 |
5. 工作时序(重点)
- CPU 把通道地址送 ADDC/ADDB/ADDA;
- ALE 高电平 → 地址锁存到内部;
- START 上升沿清 SAR,下降沿启动 A/D 转换;
- 转换期间 EOC 保持低电平;
- 转换完成,EOC 由低变高;
- CPU 检测到 EOC 高后,将 OE 置高,打开三态缓冲器,从 D7~D0 读出数据。
6. 与 CPU 的三种接口方式
- 等待方式:CPU 启动转换后延时 ≥ 转换时间,再读结果(用 CALL DELAY100 等待)。
- 采集 IN0 程序:
MOV AL, 00H ; 设置通道号 0 OUT 84H, AL ; 启动 0 通道 A/D 转换 CALL DELAY100 ; 延时 100μs,等待 A/D 转换结束 IN AL, 84H ; 读入 A/D 转换结果
- 采集 IN0 程序:
- 查询方式:CPU 通过查询 EOC 状态判断转换是否结束,再读结果。EOC 状态可接到数据线某一位(如 D7),另设状态口(如 88H~8BH)。
- 中断方式:EOC 作为中断请求信号接到 8259A,转换完成后向 CPU 发中断,CPU 在 ISR 中读取数据。
8.3.4 12 位 A/D 转换器 AD574
- 12 位逐次逼近式 ADC;
- 转换时间:12 位时 25 μs,8 位时 16 μs;
- 单通道模拟输入;内部 12 位 SAR + 比较器 + D/A 转换器(AD565A)+ 10V 基准;
- 单极性输入范围:0
10V 或 020V; - 双极性输入范围:±5V 或 ±10V;
- 内部集成三态输出缓冲器;
- 三态控制:STS(状态)、12/8(数据格式选择)、CS、A0、R/C、CE 等。
8.4 采样保持器(S/H)
1. 采样保持原理
- A/D 转换期间需要输入信号保持不变,故常在模拟输入与 ADC 之间加入采样保持器。
- 核心电路:开关 K(受 V_S/H 控制)+ 保持电容 C_H + 缓冲级;
- V_S/H 高电平 → 采样(开关闭合,电容跟踪输入);
- V_S/H 低电平 → 保持(开关断开,电容上保持当前电压);
- 用途:在转换快速变化的模拟信号时减小孔径误差(aperture error)。
2. 主要性能指标
- 采集时间(Acquisition Time):从采样开始到输出稳定所需时间,一般定义为输出跟踪 10V 跳变达到 0.01% 误差所需时间。
- 直流偏移:输入接地时的输出电压。
- 转换速率:输出电压变化的最大速率(V/s)。
- 孔径时间(Aperture Time):从保持命令发出到开关完全断开的时间(μs 级)。
- 下跌率(Droop Rate):保持阶段电容的放电速度(V/s),由开关漏电流等引起。
- 工程中保持电容 C_H 的选择需要折衷采集时间和下跌率。
二、考点总结
核心概念(必背)
- ADC / DAC 定义:模数转换器 / 数模转换器。
- T 型电阻网络(R-2R)D/A 转换原理与输出公式
VOUT = a·D = (VREF/2ⁿR)·R0·D。 - 分辨率公式:
- DAC:分辨率 = FS / 2ⁿ;
- ADC:分辨率 = VFS / 2ⁿ;
- 量化单位 q = FS / 2ⁿ,最大量化误差 = ± q/2。
- 建立时间 / 转换时间 含义。
- 香农采样定理:采样频率 f ≥ 2·fmax。
- 量化误差 计算:±FS/2ⁿ⁺¹。
- 多路开关 CD4051:8 通道、地址 CBA、禁止端 INH。
DAC0832 相关【高频】
- 【高频】三种工作方式:
- 直通:ILE、/CS、/WR1、/XFER、/WR2 全部置有效,数据直通 DAC。
- 单缓冲:一组寄存器直通,另一组受控;适合单路模拟输出场景。
- 双缓冲:两级寄存器都受控,分两步锁存;适合多片 DAC0832 同步输出。
- 【高频】输出电压公式:
VOUT = 5V · N / 2⁸ = 5V · N / 255(N 为数字量,0~255)。 - 引脚 ILE、/CS、/WR1、/XFER、/WR2 的逻辑关系:
- 输入寄存器锁存:ILE=1 且 /CS=0 且 /WR1=0;
- DAC 寄存器锁存:/XFER=0 且 /WR2=0。
- 电流输出型 DAC0832 需外接运放转换为电压。
- 单缓冲连接时端口地址示例:80H~83H;例题常考程序
MOV AL, N / OUT 78H, AL。
ADC0809 相关【高频】
- 【高频】8 通道选择:地址线 ADDC、ADDB、ADDA 决定选中 IN0~IN7 哪一路;可对照真值表做题。
- 【高频】逐次逼近式工作过程:二分搜索;n 位 ADC 仅需 n 次比较(与计数式 2ⁿ 次对比);"天平称重"类比。
- 【高频】控制信号时序:START(下降沿启动)、ALE(锁存通道地址)、EOC(启动后低电平,转换结束变高)、OE(高电平允许输出)。
- 【高频】三种 CPU 接口方式:
- 等待方式(用软件延时 ≥ 100 μs);
- 查询方式(读 EOC 状态);
- 中断方式(EOC 接 8259A 中断请求)。
- 转换时间 100 μs(时钟 640 kHz);单电源 +5V;输入范围 0~+5V;分辨率 8 位。
- 程序模板:
- 启动:
MOV AL, 通道号 / OUT 84H, AL; - 等待:
CALL DELAY100; - 读取:
IN AL, 84H。
- 启动:
其他 ADC / DAC 芯片
- DAC1210:12 位、双缓冲/单缓冲/直通、先送高 8 位再送低 4 位(BYTE1/BYTE2);线性误差 0.05%FS。
- AD574:12 位逐次逼近型;转换时间 25 μs(12 位)/16 μs(8 位);单/双极性多种量程;引脚含 STS、12/8、CS、A0、R/C、CE。
采样保持器
- 工作原理:采样(K 闭合,跟踪)/ 保持(K 断开,电容维持)。
- 关键指标:采集时间、孔径时间、下跌率;用于减小快速信号的孔径误差。
常见题型
- 计算题:
- 分辨率计算:
ΔV = FS / 2ⁿ,如 FS=10V、n=10 → ΔV≈9.77 mV; - 量化误差:±FS/2ⁿ⁺¹;
- DAC0832 输出电压:V = 5V · N / 255;
- 逐次逼近 ADC 转换时钟数 = n(与计数式 2ⁿ 次对比);
- ADC0809 转换时间 100 μs,CPU 等待时间至少 100 μs。
- 分辨率计算:
- 简答题:
- 逐次逼近 ADC 工作过程;
- DAC0832 单缓冲与双缓冲方式的区别与适用场景;
- T 型电阻网络 D/A 转换原理;
- 香农采样定理内容及工程意义;
- ADC0809 与 CPU 的三种接口方式(等待 / 查询 / 中断)。
- 设计题:
- 给定传感器量程和精度要求(如 0~5V、误差 ≤ 5 mV),计算所需 ADC 位数 n; 例:FS=5V,要求 5 mV 分辨率 → 5V / 5mV = 1000 → 2ⁿ ≥ 1000 → n ≥ 10 → 选 10 位或 12 位 ADC;
- 根据采样信号频率选择 ADC 类型(如音频用 Σ-Δ、数字电压表用双积分、工业控制用逐次逼近、视频用 Flash);
- 给定应用(波形发生、示波器、X-Y 绘图)选择 DAC 工作方式(直通/单缓冲/双缓冲)。
易错点提示
- DAC0832 是电流输出,必须外接运放转电压,公式才有
VOUT = a·D; - 双缓冲"双缓冲"是两级寄存器分别锁存,而非"两个 DAC";
- ADC0809 EOC 启动后为低,结束变高,与一般"高电平有效"思维相反,注意时序图;
- ADC0809 与 DAC0832 一样,模拟地 AGND 与数字地 DGND 应分别走线,最后单点共地;
- 计数式 ADC 转换次数最多 2ⁿ,逐次逼近固定 n 次——这是高频对比题。